Hump C-v 深い 界面準位
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Kumadai Repo Nii Ac Jp
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Icts Isothermal Capacitance Transient Spectroscopy 等温過渡容量 法によるgan半導体中の深い準位 の評価 事業概要 株式会社コベルコ科研
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Ir Library Osaka U Ac Jp
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1994 085022号 半導体基板内不純物のエネルギー準位評価方法及び濃度の評価方法 Astamuse
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